Olympus showt nieuwe OmniScan X3 Flaw Detector

 

Olympus showt nieuwe OmniScan X3 Flaw Detector Vertrouwen dat u kunt zien Met prachtige beelden en doordacht ontworpen software is de standaard in draagbare phased array nu nog beter. De OmniScan X3 heeft krachtige nieuwe hulpmiddelen voor lasinspectie, zoals TFM-afbeeldingen (Total Focus Method) die zijn verzameld via Full Matrix Capture (FMC), stellen u in staat om uw werk snel af te ronden en fouten correct te interpreteren. De TFM-resultaten kunt u optimaliseren voordat u begint te inspecteren met de AIM-tool (acoustic influence map). Deze biedt een visuele kaart van de TFM-focus-effecten op basis van uw modus en instellingen.Controleren of de las goed is afgedekt, gebeurt met multigroepvisualisatie. Grote indicaties, zoals een gebrek aan fusie, worden gekarakteriseerd met minder herhalingsnauwkeurigheden dankzij het hoge amplitudebereik dat is uitgebreid met 800%